全集中軟體測試:ISTQB CT-GenAI 測試專家養成攻略 作者:韓文銘、葉承宇 出版社 博碩文化 出版日期 2026-10-13 ISBN 9786264146319 分類 APP開發/程式設計、其它程式設計、電腦資訊 頁數 264 頁 在 金石堂 查看